分析測試中心為提升分析測試技術(shù)創(chuàng )新能力，加大大型儀器設備資源優(yōu)質(zhì)開(kāi)放力度，更有效貫徹測試平臺服務(wù)理念，將定期邀請國內外資深專(zhuān)家做系列分析測試技術(shù)報告，使測試技術(shù)人員和科研人員了解前沿分析測試技術(shù)，共同拓寬創(chuàng )新視野，助力搶占科技制高點(diǎn)任務(wù)的完成。
本期將邀請馬普所(MPIE)“顯微學(xué)與衍射”研究組負責人Dr. Stefan Zaefferer 等專(zhuān)家，就最新掃描電鏡ECCI技術(shù)的發(fā)展與應用做技術(shù)報告，同時(shí)在現場(chǎng)進(jìn)行演示與互動(dòng)研討。
歡迎廣大研究人員和研究生參加！
1.日程和內容安排
2.報告人簡(jiǎn)介
Stefan Zaefferer教授，德國克勞斯塔爾-澤勒費爾德工業(yè)大學(xué)（Technical University Clausthal-Zellerfeld）學(xué)習物理冶金學(xué)和金屬物理學(xué)，并獲得與鈦合金TEM研究相關(guān)的博士學(xué)位。自 2000 年以來(lái)，在德國杜塞爾多夫的馬克斯-普朗克研究所（Max-Planck-institute）從事鋼鐵相關(guān)研究，并領(lǐng)導“顯微鏡和衍射”小組，擔任亞琛工業(yè)大學(xué)材料表征講師。曾在法國巴黎第十二大學(xué)擔任3年研究員，日本京都大學(xué)擔任2年研究員，同時(shí)定期在維也納大學(xué)任教。
Zaefferer博士一直致力于晶格缺陷表征技術(shù)的開(kāi)發(fā)和應用，包括TEM和 SEM相關(guān)技術(shù)，并率先發(fā)展了基于SEM的ECCI技術(shù)。除了發(fā)展衍射技術(shù)外，Stefan的研究興趣還包括金屬和其他材料中微觀(guān)結構形成的機制，包括變形、再結晶和相變。Stefan Zaefferer作為作者或合著(zhù)者發(fā)表了150篇期刊論文。
沙學(xué)超 博士，北京工業(yè)大學(xué)凝聚態(tài)物理專(zhuān)業(yè)博士畢業(yè)，長(cháng)期從事顯微結構表征相關(guān)工作，具有十多年的各式電子顯微鏡使用經(jīng)驗，參與發(fā)表SCI文章十余篇。目前任職于蔡司科研顯微鏡市場(chǎng)拓展部門(mén)，致力于為更多客戶(hù)開(kāi)發(fā)合適的應用解決方案，已經(jīng)協(xié)助客戶(hù)發(fā)表NM，NE，SA在內的多篇高水平文章。
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